①链路中使用了劣质器件或选用的器件不匹配，从而破坏了平衡性和参数连续性；
②由于端接时工艺不规范，如接头未双绞部分超过推荐的13mm，造成了电缆绞距被破坏，从而导致在这些位置产生过高的串扰；
③串扰线对的影响；
④施工过程改变了电缆结构，如弯曲半径过小、踩踏电缆、牵引力过大等。对这类故障，无论它是发生在某个接插件还是某一段链路，都可以利用HDTDX 技术发现它们的位置。
5)回波损耗
回波损耗是由于链路阻抗不匹配造成的信号反射。它主要发生在连接器的地方，端接工艺不良和链路上产品非同一厂家生产等因素都会引起阻抗不匹配。由于在千兆以太网中用到了双绞线中的四对线同时双向传输(全双工)，因此被反射的信号会被误认为是收到的信号而产生混乱。由于回波损耗是由阻抗变化引起的信号反射，因此如果回波损耗没通过，可用HDTDR技术进行精确定位。
8.6 光纤测试
8.6.1 光纤测试内容
和电缆链路一样，光纤链路安装完成后，要对其进行性能测试。光纤链路的传输质量不仅取决于光纤和连接件的质量，还取决于光纤连接安装水平及应用环境。光纤测试比双绞线测试难度更大，光纤测试的基本内容是连通性测试、衰减测试和故障定位测试。2004年2月批准的TIA/EIATSB140标准，名称为“光缆系统现场测试长度、损耗和极性的附加原则”，它对如何在现场测试光缆做出了指导，将光纤定义了两个级别的测试，等级1(Tier1)和等级2(Tier2)。
1.等级1
等级1测试光缆的衰减(插入损耗)、长度及极性。进行等级1测试时，要使用光缆损耗测试设备(OLTS)，如光功率计，测量每条光缆链路的衰减，通过光学测量或借助电缆护套标记计算出光缆长度，使用OLTS或可见光源，例如故障定位器(VFL)，验证光缆极性。
2.等级2
等级2测试是可选的，但也是非常重要的。等级2测试除包括等级1的测试参数外，还包括对每条电缆链路的OTDR追踪。OTDR曲线是一条光缆随长度变化的衰减图形。通过检查路径的不一致性，可以深入查看链路(电缆、连接器或接合处)的详细性能及施工质量。
OTDR 曲线不能替代使用OLTS进行的插入损耗测量，但可用于光缆链路的补充性评估。
结合两个等级的测试方式，施工者可以最全面地认识光缆的安装，网络所有者也有了安装质量的证明。
等级2测试需要使用光时域反射计。
8.6.2 光纤测试标准
光纤测试标准可从两个方面考虑，从布线链路考虑目前使用的国际标准有TIA/EIA-568-B.3、ISO11801、EN50173 等；从网络应用考虑有10BASE-FL、100BASE-FX、IEEE802.3z等。下面分别介绍TIA/EIA-568-B.3和IEEE802.3z。
1.光纤链路布线标准TIA/EIA-568-B.3
TIA/EIA-568-B.3对各种类型的光纤链路的长度和最大衰减、光纤连接点的最大衰减作出了规定，对于光纤链路来说，这是一个“活”的标准，因为测试时，要根据被测试光纤链路长度、光纤适配器个数和光纤熔接点的个数测试和计算光纤链路是否符合标准，测试时每个测试点的衰减都必须符合标准。
2.千兆光纤网络应用标准IEEE802.3z
IEEE802.3z只定义了一条光纤链路的长度和总的衰减要求。
3.布线标准和网络应用标准的选择
在测试中往往存在用网络应用标准测试合格，而用布线标准测试不合格的情况。建筑物内主干光缆链路测试模型，若建筑物从设备间到楼层配线间是一条62.5/125的多模光缆(长波)，链路中有一段光缆长为490m，两个耦合器，两个熔接点，两条光纤尾纤，各长5m，这条链路是用于千兆传输的。若测试的总衰减为3.1dB<4.0dB，总长度为500m<550m，符合千兆光纤网络IEEE802.3z的标准。若链路上光缆和各连接点的衰减为：耦合器1为1.2dB，光纤熔接点1为0.1dB，490m光缆为0.4dB，光纤熔接点2为0.5dB，耦合器2为0.9dB。总衰减为1.2+0.1+0.4+0.5+0.9=3.1dB。用TIA/EIA-568-B.3标准测试，其中，耦合器1衰减为1.2dB>0.75dB，光纤熔接点2衰减为0.5dB>
0.3dB，耦合器2衰减为0.9dB>0.75dB，是一条不合格的光纤链路，主要原因是衰减集中在3个连接点，不能满足传输要求，因此，在光纤通信链路测试中要使用TIA/EIA-568-B.3、ISO118012002等光纤链路布线标准进行测试，而不仅仅是网络应用标准。
8.6.3 光纤现场测试
按等级1标准，对光纤测试主要是衰减测试和光缆长度测试，衰减测试就是对光功率损耗的测试，引起光纤链路损耗的原因主要有如下几个。
①材料原因。光纤纯度不够和材料密度的变化太大。
②光缆的弯曲程度。包括安装弯曲和产品制造弯曲问题，光缆对弯曲非常敏感。
③光缆接合及连接的耦合损耗。这主要由截面不匹配、间隙损耗、轴心不匹配和角度不匹配造成。
④不洁或连接质量不良。低损耗光缆的大敌是不洁净的连接，灰尘阻碍光传输，手指的油污影响光传输，不洁净光缆连接器可扩散至其他连接器。
1.光功率计测衰减
对已敷设的光缆，可用插损法进行衰减测试，即用一个功率计和一个光源来测量两个功率的差值。第一个是从光源注入到光缆的能量，第二个是从光缆段的另一端射出的能量。测量时为确定光纤的注入功率，必须对光源和功率计进行校准。校准后的结果可为所有被测光缆的光功率损耗测试提供一个基点，两个功率的差值就是每个光纤链路的损耗。
1)光纤衰减测试准备工作光纤衰减测试准备工作如下：
①确定要测试的光缆；
②确定要测试光纤的类型；
③确定光功率计和光源与要测试的光缆类型匹配；
④校准光功率计；
⑤确定光功率计和光源处于同一波长。
2)测试设备
测试设备包括光功率计、光源、参照适配器(耦合器)、测试用光缆跳线等。
3)光功率计校准
校准光功率计的目的是确定进入光纤段的光功率大小，校准光功率计时，用两个测试用光缆跳线把功率计和光源连接起来，用参照适配器把测试用光缆跳线两端连接起来。
4)光纤链路衰减测试
光纤链路衰减测试步骤如下。
①测试光纤链路的目的是要了解光信号在光纤路径上的传输衰耗，该衰耗与光纤链路的长度、传导特性、连接器的数目、接头的多少有关。
②测试进行连接。
③测试连接前应对光连接的插头、插座进行清洁处理，防止由于接头不干净带来附加损耗，造成测试结果不准确。
④向主机输入测量损耗标准值。
⑤操作测试仪，在所选择的波长上分别进行两个方向的光传输衰耗测试。
⑥报告在不同波长下不同方向的链路衰减测试结果，是“通过”或“失败”。
单模光纤链路的测试同样可以参考上述过程进行，但光功率计和光源模块应当换为单模光纤的。
2.光时域反射计测试
光功率计只能测试光功率损耗，如果要确定损耗的位置和损耗的起因，就要采用光时域反射计(OTDR)，OTDR测试是通过发射光脉冲到光纤内，然后在OTDR端口接收返回的信息来进行。当光脉冲在光纤内传输时，会由于光纤本身的性质、连接器、接合点、弯曲或其他类似的事件而产生散射、反射。其中一部分散射和反射会返回到OTDR 中。返回的有用信息由OTDR的探测器来测量，它们就作为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。这样OTDR将光纤链路的完好情况和故障状态，以一定斜率直线(曲线)的形式清晰地显示出来。
根据事件表的数据，能迅速地查找确定故障点的位置和判断障碍的性质及类别，对分析光纤的主要特性参数能提供准确的数据。
OTDR可测试的主要参数有：①测光纤长和事件点的位置；②测光纤的衰减和衰减分布情况；③测光纤的接头损耗；④光纤全回损的测量。OTDR进行光纤线路的测试，一般有3种方式：自动方式、手动方式和实时方式。当需要概览整条线路的状况时，采用自动方式，它只需要设置折射率、波长最基本的参数，其他由仪表在测试中自动设定。手动方式需要对几个主要参数全部进行设置，主要用于对测试曲线上的事件进行详细分析，一般通过变换、移动游标、放大曲线的某一段落等功能对事件进行准确定位，提高测试的分辨率，增加测试的精度。实时方式是对曲线不断地扫描刷新，由于曲线不断地跳动和变化，所以较少使用。
练习题
1.简述验证测试的实施时间、测试内容与作用。
2.简述认证测试的实施时间、测试内容与作用。
3.简述长度测试的工作原理。
4.当数字测试仪测量的线缆长度小于实际长度时，应如何调校NVP值？
5.分析NEXT与FEXT的异同点。
6.简述测试中哪些指标用余量表示测试结果。余量与标准有何关系？
7.总结NEXT测试失败的原因，并回答用什么技术对该故障定位分析。
8.总结RL测试失败的原因，并回答用什么技术对该故障定位分析。
9.简述光功率计与光时域反射计(OTDR)各自的功能和用途。
实训项目
实训1 验证测试1.实训目的和要求(1)熟悉验证测试仪的功能。
(2)熟悉验证测试的内容。
(3)掌握验证测试仪的现场测试方法。
2.实训工具
简易布线通断测试仪。
3.实训设备与材料
直通网线，交叉网线，故障线(开路、短路、反接、线芯交叉、串绕)。
实训2 认证测试
1.实训目的和要求
(1)熟悉认证测试仪的功能。
(2)熟悉认证测试的内容。
(3)掌握认证测试仪的通道、永久链路两种模型的现场测试方法。
(4)掌握DTX和DTR故障分析方法。
2.实训工具
认证测试仪及通道接口、永久链路接口。
3.实训设备与材料
(1)正常的水平布线链路(5e类、6类)。
(2)接线图故障水平布线链路(开路、短路、跨接、反接、线芯交叉、串绕)。
(3)电气性能故障水平布线链路(5e类线缆混用到6类系统中、弯曲半径不合格、端接处开绞过长等)。
实训3 光纤测试
1.实训目的和要求
(1)了解光功率计、光时域反射计的功能。
(2)熟悉光纤测试的内容。
(3)掌握光功率计的现场测试方法。
(4)了解光时域反射计的现场测试方法。
2.实训工具
光功率计、光时域反射计。
3.实训设备与材料
(1)正常的光纤链路(有耦合器、光纤熔接点)。
(2)有故障的光纤链路(有耦合器、光纤熔接点)。
